Chapter 1155. IEC 61508 안전 무결성 수준 심화 (IEC 61508 SIL In-Depth)

• Chapter 1155. IEC 61508 안전 무결성 수준 심화 (IEC 61508 SIL In-Depth)

• 1155.1안전 무결성 수준(SIL)의 상세 정의

• 1155.2SIL과 위험 감소 수준의 관계

• 1155.3목표 고장 확률(PFD/PFH)의 수치 기준

• 1155.4SIL 결정 방법론의 개요

• 1155.5위험 그래프(Risk Graph) 방법에 의한 SIL 결정

• 1155.6위험 매트릭스(Risk Matrix) 방법에 의한 SIL 결정

• 1155.7ALARP(합리적으로 실현 가능한 최저 수준) 원칙

• 1155.8안전 기능과 안전 무결성의 관계

• 1155.9하드웨어 안전 무결성의 정량적 평가

• 1155.10위험 고장률(λD)과 안전 고장률(λS)의 산정

• 1155.11진단 시험 간격(T1)의 영향

• 1155.12검증 시험 간격(T2)의 영향

• 1155.13공통 원인 고장(CCF)의 β 인자 모델

• 1155.141oo1, 1oo2, 2oo2, 2oo3 아키텍처의 PFD 산정

• 1155.15MooN 아키텍처의 일반화된 PFD 산정

• 1155.16안전 고장 비율(SFF)의 상세 산정

• 1155.17하드웨어 고장 허용(HFT)과 SFF의 조합 요건

• 1155.18Type A 서브시스템의 아키텍처 제약

• 1155.19Type B 서브시스템의 아키텍처 제약

• 1155.20체계적 안전 무결성의 정성적 평가

• 1155.21체계적 역량(SC)의 결정 절차

• 1155.22소프트웨어 SIL의 달성 요건

• 1155.23SIL 검증을 위한 신뢰성 데이터 활용

• 1155.24SIL 인증 절차와 문서화 요건